Le Département matériaux possède des compétences reconnues dans la caractérisation optique de matériaux. Pour des applications industrielles liées au laser Méga Joule, il a déjà développé un réflectomètre dans le domaine du visible et proche infrarouge donnant une excellente précision sur de petites pièces, même non planes. Nous souhaitons à présent concevoir un système équivalent fonctionnant dans le domaine de l'infrarouge moyen et lointain et appliqué à de plus grandes dimensions (de l'ordre de la dizaine de centimètres).

Le CEA Le Ripault étudie généralement les propriétés optiques des matériaux sur échantillons plans de petite taille (de l'ordre du cm) dans un domaine allant de l'UV à l'IR. Afin de valider le protocole de caractérisations sur pièces réelles, l'objectif est de caractériser des formes non obligatoirement planes via la réalisation d'un banc de mesure de réflectivité infrarouge portable. Celui-ci pourra être disposé dans un atelier de production en partant des idées qui ont été déployées pour la mise au point du réflectomètre visible. La limitation du domaine spectral, des déplacements, des précisions et du temps de mesure seront les données d'entrée initiales.

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