• EN
  • FR
Site carrière CEA : toutes nos offres d'emploi
CEA

Suivez nous

  •  

  • Accueil
  • Déposer une candidature spontanée
  • Ma recherche, mon alerte
  • CDI/CDD pour alternants/stag. CEA
  • Consulter nos sujets de Thèses
  • Un souci ? Consulter notre FAQ
 

Connexion Espace candidat

J'ai déjà un espace candidat

Connexion à l'espace candidat




Mot de passe perdu

S'inscrire Je me crée un espace candidat

Vous n'avez pas encore votre propre espace candidat. Créez-le en cliquant ici.
Un souci ? Contactez-nous à
admin-poem@cea.fr

 

Vous êtes ici :  Accueil  ›  Liste des offres  ›  Détail de l'offre

Ma sélection : 0 offre(s)
Site carrière CEA : toutes nos offres d'emploi
CEA

Suivez nous

  •  

Menu Site carrière CEA

  • Accueil
  • Déposer une candidature spontanée
  • Ma recherche, mon alerte
  • CDI/CDD pour alternants/stag. CEA
  • Consulter nos sujets de Thèses
  • Un souci ? Consulter notre FAQ
Pause
Lecture
Moteur de recherche d'offres d'emploi CEA
Voir toutes les offres
Flux RSS et autres flux
Information

Sub-30 nm sample preparation and limited-angle STEM tomography H/F

  • Envoyer cette offre à un ami
  • Imprimer cette offre (nouvelle fenêtre)
  •  


Vacancy details

General information

CEA (logo)

Organisation

The French Alternative Energies and Atomic Energy Commission (CEA) is a key player in research, development and innovation in four main areas :
• defence and security,
• nuclear energy (fission and fusion),
• technological research for industry,
• fundamental research in the physical sciences and life sciences.

Drawing on its widely acknowledged expertise, and thanks to its 16000 technicians, engineers, researchers and staff, the CEA actively participates in collaborative projects with a large number of academic and industrial partners.

The CEA is established in ten centers spread throughout France
  

Reference

2026-42234  

Position description

Category

Intrumentation, metrology and control

Contract

Internship

Job title

Sub-30 nm sample preparation and limited-angle STEM tomography H/F

Subject

Prepare sub-30-nm FIB lamellae and use limited-angle STEM tomography to reduce projection effects in nanoscale semiconductor devices.

Contract duration (months)

6

Job description

As semiconductor devices become smaller and more complex, structural information from 2D STEM images becomes harder to interpret because projection effects and overlapping features through conventional FIB lamellae can obscure nanoscale structures.

The internship will improve both sample preparation and STEM characterization. Lamellae thinner than 30 nm will be prepared using FIB milling followed by low-energy argon-ion polishing.

Limited-angle electron tomography will then reconstruct the central slice of the FIB lamella to reduce projection effects. The results will be compared with a full 3D volume reconstructed using deep-learning approaches.

Methods / Means

Electron microscopy (FIB-SEM, STEM), deep-learning approaches

Applicant Profile

Master 2 in materials science, physics or equivalent, with programming skills.

Position location

Site

Grenoble

Job location

France

Location

Grenoble

Candidate criteria

Prepared diploma

Bac+5 - Master 2

Recommended training

Materials science, physics

PhD opportunity

Oui

Requester

Position start date

01/03/2027


Autres offres

Ces offres pourraient vous intéresser

STAGE Sûreté-criticité : vers une exploitation optimisée de la validation expérimentale H/F

Ajouter cette offre à ma sélection : STAGE Sûreté-criticité : vers une exploitation optimisée de la validation expérimentale H/F (2026-41937)
  • Réf. : 2026-41937
  • Stage
  • Bouches du Rhône (13)
  • Saint-Paul-Lez-Durance

Calibration de modèles physiques par inversion probabiliste sur plusieurs sources de données H/F

Ajouter cette offre à ma sélection : Calibration de modèles physiques par inversion probabiliste sur plusieurs sources de données H/F (2026-41719)
  • Réf. : 2026-41719
  • Stage
  • Gif sur Yvette

STAGE 6 mois Développement essai mécanique miniaturisé pour caractérisation rapide d'aciers avancés H/F

Ajouter cette offre à ma sélection : STAGE 6 mois Développement essai mécanique miniaturisé pour caractérisation rapide d'aciers avancés H/F (2026-42055)
  • Réf. : 2026-42055
  • Stage
  • Essonne (91)
  • Saclay
  • Mentions légales
  • Cookies
  • Paramétrer vos cookies
  • Accessibilité : partiellement conforme
  • Plan du site
Aller en haut